Hersteller Produktnummer:
SN74LVTH18646APM
Product Overview
Hersteller:
Texas Instruments
Teilenummer:
SN74LVTH18646APM-DG
Beschreibung:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Detaillierte Beschreibung:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventar:
305 Stück Neu Original Auf Lager
1862955
Angebot anfordern
Menge
Mindestens 1
Mindestens 1
(*) ist erforderlich
Wir werden uns innerhalb von 24 Stunden bei Ihnen melden
Wir werden uns innerhalb von 24 Stunden bei Ihnen melden
EINREICHEN
SN74LVTH18646APM Technische Spezifikationen
Kategorie
Logik, Speziallogik
Hersteller
Texas Instruments
Verpackung
Tray
Reihe
74LVTH
Produktstatus
Active
Logik-Typ
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Versorgungsspannung
2.7V ~ 3.6V
Anzahl der Bits
18
Betriebstemperatur
-40°C ~ 85°C
Art der Montage
Surface Mount
Paket / Koffer
64-LQFP
Gerätepaket für Lieferanten
64-LQFP (10x10)
Basis-Produktnummer
74LVTH18646
Datenblatt & Dokumente
Datenblätter
Zusätzliche Informationen
Standard-Paket
160
Andere Namen
-296-8703-DG
-296-8703
-SN74LVTH18646APMG4
2156-SN74LVTH18646APM
296-8703-NDR
-SN74LVTH18646APM-NDR
296-8703
SN74LVTH18646APMG4
SN74LVTH18646APMG4-DG
TEXTISSN74LVTH18646APM
-296-8703-NDR
-SN74LVTH18646APMG4-NDR
Umwelt- und Exportklassifizierung
RoHS-Status
ROHS3 Compliant
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsstufe (MSL)
3 (168 Hours)
REACH-Status
REACH Unaffected
ECCN (Englisch)
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI-Zertifizierung
Ähnliche Produkte
SN74LVTH18646APMG4
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74TVC3010DBQR
IC PROG V CLAMP 24-QSOP
V62/04730-01XE
ENHANCED PRODUCT 3.3-V ABT SCAN