Hersteller Produktnummer:
SN74LVTH182646APM
Product Overview
Hersteller:
Texas Instruments
Teilenummer:
SN74LVTH182646APM-DG
Beschreibung:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Detaillierte Beschreibung:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventar:
1752530
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SN74LVTH182646APM Technische Spezifikationen
Kategorie
Logik, Speziallogik
Hersteller
Texas Instruments
Verpackung
Tray
Reihe
74LVTH
Produktstatus
Active
Logik-Typ
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Versorgungsspannung
2.7V ~ 3.6V
Anzahl der Bits
18
Betriebstemperatur
-40°C ~ 85°C
Art der Montage
Surface Mount
Paket / Koffer
64-LQFP
Gerätepaket für Lieferanten
64-LQFP (10x10)
Basis-Produktnummer
74LVTH182646
Datenblatt & Dokumente
Datenblätter
Zusätzliche Informationen
Standard-Paket
160
Andere Namen
74LVTH182646APMG4
2156-SN74LVTH182646APM
TEXTISSN74LVTH182646APM
74LVTH182646APMG4-DG
Umwelt- und Exportklassifizierung
RoHS-Status
ROHS3 Compliant
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsstufe (MSL)
3 (168 Hours)
REACH-Status
REACH Unaffected
ECCN (Englisch)
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI-Zertifizierung
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