SN74BCT8374ADW
Hersteller Produktnummer:

SN74BCT8374ADW

Product Overview

Hersteller:

Texas Instruments

Teilenummer:

SN74BCT8374ADW-DG

Beschreibung:

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Detaillierte Beschreibung:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC

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SN74BCT8374ADW Technische Spezifikationen

Kategorie
Logik, Speziallogik
Hersteller
Texas Instruments
Verpackung
Tube
Reihe
74BCT
Produktstatus
Active
Logik-Typ
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Versorgungsspannung
4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits
8
Betriebstemperatur
0°C ~ 70°C
Art der Montage
Surface Mount
Paket / Koffer
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Gerätepaket für Lieferanten
24-SOIC
Basis-Produktnummer
74BCT8374

Datenblatt & Dokumente

Datenblätter
SN54/74BCT8374A

Zusätzliche Informationen

Standard-Paket
25
Andere Namen
SN74BCT8374ADWE4-DG
SN74BCT8374ADWE4
-SN74BCT8374ADW-NDR
SN74BCT8374ADWG4
SN74BCT8374ADWG4-DG
296-33849-5
SN74BCT8374ADW-DG

Umwelt- und Exportklassifizierung

RoHS-Status
ROHS3 Compliant
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsstufe (MSL)
1 (Unlimited)
REACH-Status
REACH Unaffected
ECCN (Englisch)
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI-Zertifizierung
certification_01
certification_02
certification_03
certification_04
cr
certification_015
certification_08
esd
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