Hersteller Produktnummer:
SN74BCT8373ADWR
Product Overview
Hersteller:
Texas Instruments
Teilenummer:
SN74BCT8373ADWR-DG
Beschreibung:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Detaillierte Beschreibung:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
Inventar:
1578872
Angebot anfordern
Menge
Mindestens 1
Mindestens 1
(*) ist erforderlich
Wir werden uns innerhalb von 24 Stunden bei Ihnen melden
Wir werden uns innerhalb von 24 Stunden bei Ihnen melden
EINREICHEN
SN74BCT8373ADWR Technische Spezifikationen
Kategorie
Logik, Speziallogik
Hersteller
Texas Instruments
Verpackung
-
Reihe
74BCT
Produktstatus
Obsolete
Logik-Typ
Scan Test Device with D-Type Latches
Versorgungsspannung
4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits
8
Betriebstemperatur
0°C ~ 70°C
Art der Montage
Surface Mount
Paket / Koffer
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Gerätepaket für Lieferanten
24-SOIC
Basis-Produktnummer
74BCT8373
Datenblatt & Dokumente
Datenblätter
Zusätzliche Informationen
Standard-Paket
2,000
Andere Namen
2156-SN74BCT8373ADWR-TITR
TEXTISSN74BCT8373ADWR
Umwelt- und Exportklassifizierung
RoHS-Status
ROHS3 Compliant
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsstufe (MSL)
1 (Unlimited)
REACH-Status
REACH Unaffected
ECCN (Englisch)
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI-Zertifizierung
Ähnliche Produkte
SY10EL16VFKI
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP
SY10EL16VZG
IC RECEIVER 5V/3.3V DIFF 8SOIC
SY100S815ZC
IC DRIVER DIFF 1:4 SGL 16-SOIC